AMOUNT OF CLAY NEEDED FOR OPTIMUM X-RAY-DIFFRACTION ANALYSIS

被引：5

作者：

RICH, CI ^{[1
]}

机构：

[1] VIRGINIA POLYTECH INST & STATE UNIV,AGRON DEPT,RES DIV,BLACKSBURG,VA 24061

来源：

SOIL SCIENCE SOCIETY OF AMERICA JOURNAL | 1975年 / 39卷 / 01期

关键词：

D O I：

10.2136/sssaj1975.03615995003900010045x

中图分类号：

S15 [土壤学];

学科分类号：

0903 ; 090301 ;

摘要：

引用

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页码：161 / 162

页数：2

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共 5 条

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