共 2 条
- [1] BARRETT CS, 1952, STRUCTURE METALS, pCH18
- [2] BECKMANN P, 1963, SCATTERING ELECTROMA, P89
0.63MU SCATTER MEASUREMENTS FROM TEFLON AND VARIOUS METALLIC SURFACES
被引：2
作者：
SEMPLAK, RA
机构：
来源：
BELL SYSTEM TECHNICAL JOURNAL
|
1965年
/
44卷
/
08期
关键词：
D O I：
10.1002/j.1538-7305.1965.tb04197.x
中图分类号：
TM [电工技术];
TN [电子技术、通信技术];
学科分类号：
0808 ;
0809 ;
摘要：
引用
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