SINGLE EVENT UPSET IN COMBINATORIAL AND SEQUENTIAL CURRENT MODE LOGIC

被引：10

作者：

FRIEDMAN, AL

LAWTON, B

HOTELLING, KR

PICKEL, JC

STRAHAN, VH

LOREE, K

机构：

[1] QUESTRON CORP,SAN DIEGO,CA

[2] IRT CORP,PLACENTIA,CA

[3] ROCKWELL INT CORP,ANAHEIM,CA 92803

[4] USAF,BMO,MGEG,NORTON AFB,CA

来源：

关键词：

D O I：

10.1109/TNS.1985.4334097

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

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页数：3