PRECISION DENSITY MEASUREMENT OF SILICON

被引：28

作者：

HENINS, I

机构：

来源：

JOURNAL OF RESEARCH OF THE NATIONAL BUREAU OF STANDARDS SECTION A-PHYSICS AND CHEMISTRY | 1964年 / A 68卷 / 05期

关键词：

D O I：

10.6028/jres.068A.050

中图分类号：

O6 [化学];

学科分类号：

0703 ;

摘要：

引用

页码：529 / +

共 41 条

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