OPTIMUM SAMPLE THICKNESS FOR TOTAL CROSS-SECTION MEASUREMENTS

被引：2

作者：

VINCENT, CH

机构：

来源：

NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION A-ACCELERATORS SPECTROMETERS DETECTORS AND ASSOCIATED EQUIPMENT | 1984年 / 219卷 / 02期

关键词：

D O I：

10.1016/0167-5087(84)90358-2

中图分类号：

TH7 [仪器、仪表];

学科分类号：

0804 ; 080401 ; 081102 ;

摘要：

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共 1 条

[1] OPTIMUM SAMPLE THICKNESS FOR TOTAL CROSS-SECTION MEASUREMENTS [J].

SEARS, VF .

NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH, 1983, 213 (2-3) :561-562