DISPLACEMENT DAMAGE EQUIVALENT TO DOSE IN SILICON DEVICES

被引：26

作者：

DALE, CJ ^{[1
]}

MARSHALL, PW ^{[1
]}

SUMMERS, GP ^{[1
]}

WOLICKI, EA ^{[1
]}

BURKE, EA ^{[1
]}

机构：

[1] MISSION RES CORP,SAN DIEGO,CA 92123

来源：

关键词：

D O I：

10.1063/1.100949

中图分类号：

O59 [应用物理学];

学科分类号：

摘要：

引用

页码：451 / 453

页数：3

共 18 条

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