EXPERIMENTAL STUDY OF LASER-INDUCED TEMPORARY DEGRADATION IN PHOTOVOLTAIC PBSNTE AND HGCDTE DIODES

被引：4

作者：

ALLEN, R ^{[1
]}

ESTEROWITZ, L ^{[1
]}

KRUER, M ^{[1
]}

BARTOLI, F ^{[1
]}

机构：

[1] USN,RES LAB,WASHINGTON,DC 20000

来源：

INFRARED PHYSICS | 1975年 / 15卷 / 04期

关键词：

D O I：

10.1016/0020-0891(75)90043-3

中图分类号：

O43 [光学];

学科分类号：

070207 ; 0803 ;

摘要：

引用

页码：265 / 269

页数：5