SINGLE EVENT UPSET RATE ESTIMATES FOR A 16-K CMOS SRAM

被引：16

作者：

BROWNING, JS ^{[1
]}

KOGA, R ^{[1
]}

KOLASINSKI, WA ^{[1
]}

机构：

[1] AEROSPACE CORP,LOS ANGELES,CA 90009

来源：

关键词：

D O I：

10.1109/TNS.1985.4334081

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

页码：4133 / 4139

页数：7

共 8 条

DIEHL, SE ;

OCHOA, A ;

DRESSENDORFER, PV ;

KOGA, R ;

KOLASINSKI, WA .

[2]

DORNY CN, 1975, ELECTRONICS ENG HDB, P5

KOGA, R ;

KOLASINSKI, WA .

[4]

KOHAVI Z, 1978, SWITCHING FINITE AUT, P15

[5]

MCLEAN FB, 1982, IEEE T NUCL SCI, V29, P2018

[6]

MNICH TM, 1984, UNPUB COMPARISON ANA

[7]

SHAPIRO P, 1983, NRL5171 NAV RES LAB

[8]

SHAPIRO P, 1982, NRL4864 NAV RES LAB