HIGHEST AND LOWEST RELIABILITY ACHIEVABLE WITH REDUNDANCY

被引：3

作者：

BECKER, PW ^{[1
]}

机构：

[1] TECH UNIV DENMARK,ELECTR LAB,DK-2800 LYNGBY,DENMARK

来源：

IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY | 1977年 / 26卷 / 03期

关键词：

D O I：

10.1109/TR.1977.5220117

中图分类号：

TP3 [计算技术、计算机技术];

学科分类号：

0812 ;

摘要：

引用

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页码：209 / 213

页数：5

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共 3 条

[1]

BECKER PW, 2ND P INT JOINT C PA, P368

[2]

BECKER PW, 1972, INTRO DESIGN PATTERN

[3]

BECKER PW, 1977, DESIGN SYSTEMS CIRCU, P96