INTERFEROMETRY WITH SCHLIEREN MICROSCOPY

被引：16

作者：

DODD, JG ^{[1
]}

机构：

[1] COLGATE UNIV,DEPT PHYS & ASTRON,HAMILTON,NY 13346

来源：

APPLIED OPTICS | 1977年 / 16卷 / 02期

关键词：

D O I：

10.1364/AO.16.000470

中图分类号：

O43 [光学];

学科分类号：

070207 ; 0803 ;

摘要：

引用

页码：470 / 472

页数：3

共 8 条

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