SAMPLE SPACE FOR PARTICLE-SIZE AND VELOCITY MEASURING INTERFEROMETERS

被引：18

作者：

FARMER, WM ^{[1
]}

机构：

[1] SPECTRON DEV LABS INC,TULLAHOMA,TN 37388

来源：

APPLIED OPTICS | 1976年 / 15卷 / 08期

关键词：

D O I：

10.1364/AO.15.001984

中图分类号：

O43 [光学];

学科分类号：

070207 ; 0803 ;

摘要：

引用

页码：1984 / 1989

页数：6

共 7 条

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