MECHANICAL SCAN SYSTEM FOR MICROSCOPIC APPLICATIONS

被引：22

作者：

MARSMAN, HJB

STRICKER, R

VANRESANDT, RWW

BRAKENHOFF, GJ

BLOM, P

机构：

[1] UNIV AMSTERDAM,INST ELECTRON MICROSCOPY,AMSTERDAM,NETHERLANDS

[2] MICROMEGA,EINDHOVEN,NETHERLANDS

来源：

关键词：

D O I：

10.1063/1.1137525

中图分类号：

TH7 [仪器、仪表];

学科分类号：

0804 ; 080401 ; 081102 ;

摘要：

引用

页码：1047 / 1052

页数：6

共 5 条

BRAKENHOFF, GJ ;

BLOM, P ;

BARENDS, P .

JOURNAL OF MICROSCOPY-OXFORD, 1979, 117 (NOV) :219-232

[2] FAST PRECISION SCANNING MICROSCOPE STAGE [J].

MCDERMOTT, RC ;

FARROW, ASJ ;

FINLAYSON, DA ;

CAMERON, J .

JOURNAL OF PHYSICS E-SCIENTIFIC INSTRUMENTS, 1979, 12 (02) :98-104

[3]

Quate C. F., 1979, P IEEE, V67

[4]

Schmahl G, 1980, Ann N Y Acad Sci, V342, P368, DOI 10.1111/j.1749-6632.1980.tb47234.x

[5] IMAGE-FORMATION IN SCANNING MICROSCOPE [J].

SHEPPARD, CJR ;

CHOUDHURY, A .

OPTICA ACTA, 1977, 24 (10) :1051-1073