DIRECT OBSERVATION OF DISLOCATIONS IN SILICON SINGLE CRYSTALS USING A WHITE X-RAY RADIATION TECHNIQUE

被引：9

作者：

FIERMANS, L

机构：

来源：

PHYSICA STATUS SOLIDI | 1964年 / 6卷 / 01期

关键词：

D O I：

10.1002/pssb.19640060115

中图分类号：

O469 [凝聚态物理学];

学科分类号：

070205 ;

摘要：

引用

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页码：169 / 172

页数：4

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共 2 条

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