LAYERED SYNTHETIC MICROSTRUCTURES - MEASUREMENTS AND APPLICATIONS

被引：18

作者：

DAY, R ^{[1
]}

GROSSO, J ^{[1
]}

BARTLETT, R ^{[1
]}

BARBEE, T ^{[1
]}

机构：

[1] STANFORD UNIV,STANFORD,CA 94305

来源：

NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH | 1983年 / 208卷 / 1-3期

关键词：

D O I：

10.1016/0167-5087(83)91131-6

中图分类号：

TH7 [仪器、仪表];

学科分类号：

0804 ; 080401 ; 081102 ;

摘要：

引用

页码：245 / 249

页数：5

共 15 条

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