PERFORMANCE OF A LAYERED SYNTHETIC MICROSTRUCTURE SPECTROGONIOMETER FOR CHARACTERISTIC X-RAY-LINES

被引：9

作者：

ARBAOUI, M ^{[1
]}

BARCHEWITZ, R ^{[1
]}

ANDRE, JM ^{[1
]}

LEPETRE, Y ^{[1
]}

RIVOIRA, R ^{[1
]}

机构：

[1] UNIV AIX MARSEILLE 3, FAC SCI ST JEROME, CTR ETUD COUCHES MINCES, F-13014 MARSEILLE 13, FRANCE

来源：

关键词：

D O I：

10.1117/12.7973983

中图分类号：

O43 [光学];

学科分类号：

070207 ; 0803 ;

摘要：

引用

页码：1207 / 1211

页数：5

共 6 条

ARBAOUI, M ;

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