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DIFFICULTIES ASSOCIATED WITH MEASUREMENT OF THICKNESS OF THIN EVAPORATED FILMS
被引:6
作者
:
BRICE, JC
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
BRICE, JC
PICK, U
论文数:
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引用数:
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0
PICK, U
机构
:
来源
:
VACUUM
|
1964年
/ 14卷
/ 10期
关键词
:
D O I
:
10.1016/0042-207X(64)90477-4
中图分类号
:
T [工业技术];
学科分类号
:
08 ;
摘要
:
引用
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页码:395 / &
相关论文
共 5 条
[1]
BEHRNDT KH, 1963, T ASM SEMINAR THIN F
[2]
BRICE JC, TO BE PUBLISHED
[3]
SCHWARTZ N, 1961, 8 T NAT VAC S
[4]
STECKELMACHER W, 1963, VACINQUE, V3, P2
[5]
WRIGHT P, 1963, ELECTRON REL MICROMI, V2, P227
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共 5 条
[1]
BEHRNDT KH, 1963, T ASM SEMINAR THIN F
[2]
BRICE JC, TO BE PUBLISHED
[3]
SCHWARTZ N, 1961, 8 T NAT VAC S
[4]
STECKELMACHER W, 1963, VACINQUE, V3, P2
[5]
WRIGHT P, 1963, ELECTRON REL MICROMI, V2, P227
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