A HIGH TEMPERATURE ATTACHMENT FOR AN X-RAY DIFFRACTOMETER FOR PRECISION LATTICE PARAMETER MEASUREMENTS

被引：25

作者：

CORNISH, AJ

BURKE, J

机构：

来源：

JOURNAL OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS | 1965年 / 42卷 / 04期

关键词：

D O I：

10.1088/0950-7671/42/4/307

中图分类号：

TH7 [仪器、仪表];

学科分类号：

0804 ; 080401 ; 081102 ;

摘要：

引用

页码：212 / &

共 19 条

[1] PRECISION LATTICE CONSTANT DETERMINATION [J].

BOND, WL .

ACTA CRYSTALLOGRAPHICA, 1960, 13 (10) :814-818

BRAND, JA ;

GOLDSCHMIDT, HJ .

JOURNAL OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS, 1956, 33 (02) :41-45

[3]

CAMPBELL WJ, 1962, ADVANCES XRAY ANALYS, V5, P169

DELF, BW .

BRITISH JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, 1963, 14 (06) :345-&

[5]

DHEURLE FM, 1963, BRIT J APPL PHYS, V18, P184

[6]

EDMUNDS IG, 1960, XRAY DIFFRACTION POL, P366

[7]

FRANKS A, 1960, ADV XRAY ANALYSIS, V3, P69

[8]

GOLDSCHMIDT HJ, 1960, XRAY DIFFRACTION POL, P242

[9]

KING HW, 1962, ADV XRAY ANAL, V5, P78

[10] INTERPRETATION OF DIFFRACTOMETER LINE PROFILES [J].

LADELL, J ;

PARRISH, W ;

TAYLOR, J .

ACTA CRYSTALLOGRAPHICA, 1959, 12 (08) :561-567