APPARATUS FOR DETERMINING TEMPERATURE PROFILES IN MICROSTRUCTURES

被引：6

作者：

SCHLEGEL, ES

机构：

来源：

REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS | 1963年 / 34卷 / 04期

关键词：

D O I：

10.1063/1.1718364

中图分类号：

TH7 [仪器、仪表];

学科分类号：

0804 ; 080401 ; 081102 ;

摘要：

引用

收藏

页码：360 / &

相关论文

共 2 条

[1] PHENOMENOLOGICAL DESCRIPTION OF THE RESPONSE AND DETECTING ABILITY OF RADIATION DETECTORS [J].

JONES, RC .

PROCEEDINGS OF THE INSTITUTE OF RADIO ENGINEERS, 1959, 47 (09) :1495-1502

[2]

Potter R.F., 1962, APPL OPTICS, V1, DOI DOI 10.1364/AO.1.000567