CHARACTERIZATION OF CRYSTALS BY GAMMA-RAY AND NEUTRON-DIFFRACTION METHODS

被引：19

作者：

SCHNEIDER, JR

机构：

来源：

关键词：

D O I：

10.1016/0022-0248(83)90116-1

中图分类号：

O7 [晶体学];

学科分类号：

0702 ; 070205 ; 0703 ; 080501 ;

摘要：

引用

页码：660 / 671

页数：12

共 25 条

[1] DESIGN AND PERFORMANCE OF A GAMMA-RAY DIFFRACTOMETER AT 0.12-A [J].

ALKIRE, RW ;

YELON, WB .

[2]

Bacon G.E., 1975, NEUTRON DIFFRACTION, V3rd ed.

[3]

BARUCHEL J, 1983, P AM CRYSTALLOGRAPHI

BASTIE, PM ;

BORNAREL, J .

JOURNAL OF PHYSICS C-SOLID STATE PHYSICS, 1979, 12 (10) :1785-1798

[5]

BRUN TO, 1983, COMMUNICATION

[6]

DACHS H, 1978, TOPICS CURRENT PHYSI, V6

[7]

Freund A., 1972, Journal of Crystal Growth, V13-14, P247, DOI 10.1016/0022-0248(72)90163-7

[8]

FREUND A, 1973, THESIS TU MUNCHEN

[9] A LOW-TEMPERATURE WEISSENBERG CAMERA FOR NEUTRONS [J].

HOHLWEIN, D ;

WRIGHT, AF .

[10]

KORSTORZ G, 1979, NEUTRON SCATTERING T, V15