THE ROLE OF FAST SECONDARY ELECTRONS IN DEGRADING SPATIAL-RESOLUTION IN THE ANALYTICAL ELECTRON-MICROSCOPE

被引：17

作者：

JOY, DC ^{[1
]}

NEWBURY, DE ^{[1
]}

MYKLEBUST, RL ^{[1
]}

机构：

[1] NBS,WASHINGTON,DC 20234

来源：

JOURNAL OF MICROSCOPY-OXFORD | 1982年 / 128卷 / NOV期

关键词：

D O I：

10.1111/j.1365-2818.1982.tb00442.x

中图分类号：

TH742 [显微镜];

学科分类号：

摘要：

引用

页码：RP1 / RP2

页数：2

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共 5 条

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[No title captured]