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HIGH-PRESSURE DEPENDENCE OF THE ROOM-TEMPERATURE MINORITY-CARRIER LIFETIMES IN GAAS
被引：6
作者：
LEROUX, M
GIBART, P
SALLESE, JM
VERIE, C
机构：
关键词：
D O I：
10.1088/0268-1242/4/4/009
中图分类号：
TM [电工技术];
TN [电子技术、通信技术];
学科分类号：
0808 ;
0809 ;
摘要：
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页数：2
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