ONE-SIDED DISTRIBUTION-FREE SIMULTANEOUS PREDICTION LIMITS FOR PARA-FUTURE SAMPLES

被引：5

作者：

CHOU, YM ^{[1
]}

OWEN, DB ^{[1
]}

机构：

[1] SO METHODIST UNIV, DALLAS, TX 75275 USA

来源：

JOURNAL OF QUALITY TECHNOLOGY | 1986年 / 18卷 / 02期

关键词：

D O I：

10.1080/00224065.1986.11978993

中图分类号：

T [工业技术];

学科分类号：

08 ;

摘要：

引用

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页数：3

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共 2 条

[1]

Hahn G. J., 1973, Journal of Quality Technology, V5, P178

[2]

Hall IJ., 1975, J QUAL TECHNOL, V7, P109