STATISTICAL MULTIPARAMETER SENSITIVITY MEASURE FOR NOTCH FILTERS

被引：2

作者：

LAKER, KR

GHAUSI, MS

机构：

[1] USAF,CAMBRIDGE RES LABS,MICROWAVE PHYS LAB,BEDFORD,MA 01731

[2] WAYNE STATE UNIV,DEPT ELECT ENGN,DETROIT,MI 48202

来源：

IEEE TRANSACTIONS ON CIRCUITS AND SYSTEMS | 1976年 / 23卷 / 03期

关键词：

D O I：

10.1109/TCS.1976.1084187

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

页码：173 / 176

页数：4

共 6 条

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