THE QUANTIFICATION OF MICROWEAR TRACES - A NEW USE FOR INTERFEROMETRY

被引：60

作者：

DUMONT, J

机构：

来源：

关键词：

D O I：

10.1080/00438243.1982.9979861

中图分类号：

K85 [文物考古];

学科分类号：

0601 ;

摘要：

引用

页码：206 / 217

页数：12

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