PROPERTIES OF PROFILED SEMICONDUCTOR SINGLE-CRYSTALS GROWN BY STEPANOVS METHOD

被引:12
作者
ANTONOV, PI [1 ]
机构
[1] AF IOFFE PHYSICO TECH INST,LENINGRAD,USSR
关键词
D O I
10.1016/0022-0248(74)90077-3
中图分类号
O7 [晶体学];
学科分类号
0702 ; 070205 ; 0703 ; 080501 ;
摘要
引用
收藏
页码:318 / 322
页数:5
相关论文
共 13 条
  • [1] ANTONOV PI, 1972, IZV AN SSSR FIZ+, V36, P501
  • [2] ANTONOV PI, 1972, P C STRUCTURE DEFECT
  • [3] KOPTEV YI, 1968, 1 P C OBT SEM SINGL, P74
  • [4] NOSOV JG, 1973, IZV AKAD NAUK SSSR F, V37, P2334
  • [5] STEPANOV AV, 1963, BUDUSHEE METALLOOBRA
  • [6] TATARCHENKO VA, 1969, IZV AKAD NAUK SSSR F, V33, P83
  • [7] Tsivinskii S.V., 1962, INZH FIZ ZH, V5, P59
  • [8] TSIVINSKII SV, 1972, SOVIET PHYS TECHN, V40, P372
  • [9] 1972, IZV AKAD NAUK SSSR F, V36
  • [10] 1969, IZV AKAD NAUK SSSR F, V33