RELIABILITY GROWTH-MODELS FOR HARDWARE AND SOFTWARE SYSTEMS BASED ON NON-HOMOGENEOUS POISSON PROCESSES - A SURVEY

被引：42

作者：

YAMADA, S

OSAKI, S

机构：

来源：

MICROELECTRONICS AND RELIABILITY | 1983年 / 23卷 / 01期

关键词：

D O I：

10.1016/0026-2714(83)91372-0

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

页码：91 / 112

页数：22

共 47 条

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