ULTRA SENSITIVE ANALYSIS OF LIGHT ELEMENTS IN MATERIALS OF VERY HIGH PURITY BY ACTIVATION USING GAMMA PHOTONS AND CHARGED PARTICLES

被引:10
作者
ENGELMANN, C
机构
来源
INTERNATIONAL JOURNAL OF APPLIED RADIATION AND ISOTOPES | 1967年 / 18卷 / 08期
关键词
D O I
10.1016/0020-708X(67)90056-7
中图分类号
TL [原子能技术]; O571 [原子核物理学];
学科分类号
0827 ; 082701 ;
摘要
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