STEM IMAGING OF THICK SPECIMENS WITH OFF-AXIS DETECTORS

被引：4

作者：

COWLEY, JM

机构：

来源：

JOURNAL OF ELECTRON MICROSCOPY TECHNIQUE | 1984年 / 1卷 / 01期

关键词：

D O I：

10.1002/jemt.1060010108

中图分类号：

Q [生物科学];

学科分类号：

07 ; 0710 ; 09 ;

摘要：

引用

页码：83 / 94

页数：12

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共 4 条

[1] SCANNING-TRANSMISSION ELECTRON-MICROSCOPY OF THIN SPECIMENS [J].

COWLEY, JM .

[2] TOPOGRAPHICAL CONTRAST IN TRANSMISSION ELECTRON-MICROSCOPE [J].

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DEKKERS NH, 1974, OPTIK, V41, P452

[4]

[No title captured]