GENERALIZED SERIAL TEST AND BINARY EXPANSION OF SQUARE-ROOT-OF-2

被引：23

作者：

GOOD, IJ

GOVER, TN

机构：

[1] TRINITY COLL,OXFORD,ENGLAND

[2] ATLAS COMP LAB,DIDCOT,ENGLAND

来源：

JOURNAL OF THE ROYAL STATISTICAL SOCIETY SERIES A-GENERAL | 1967年 / 130卷

关键词：

D O I：

10.2307/2344040

中图分类号：

O1 [数学]; C [社会科学总论];

学科分类号：

03 ; 0303 ; 0701 ; 070101 ;

摘要：

引用

页码：102 / 107

页数：6

共 26 条

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