ANALYSIS OF TRANSIENT RADIATION UPSET IN A 2K SRAM

被引：22

作者：

MASSENGILL, LW ^{[1
]}

DIEHLNAGLE, SE ^{[1
]}

WROBEL, TF ^{[1
]}

机构：

[1] SANDIA NATL LABS, ALBUQUERQUE, NM 87185 USA

来源：

IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE | 1985年 / 32卷 / 06期

关键词：

D O I：

10.1109/TNS.1985.4334062

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

收藏

页码：4026 / 4030

页数：5

相关论文

共 8 条

[1]

DIEHLNAGLE SE, 1984, IEEE T NUCLEAR SCI, V31

[2]

DONOVAN RP, 1974, AFALTR7461 AIR FORC

[3]

LONG DM, 1983, IEEE T NUCLEAR SCI, V30

[4]

MASSENGILL LW, 1985, 4TH P INT C NUM AN S

[5]

MASSENGILL LW, 1984, IEEE T NUCLEAR SCI, V31

[6]

MASSENGILL LW, 1984, THESIS N CAROLINA ST

[7]

VOLDMAN SS, 1985, IEEE INT SOLID STATE, V28

[8]

WIRTH JL, 1964, IEEE T NUCLEAR SCI, V11