STRUCTURAL MEASUREMENT BY INVERSE SCATTERING IN 1ST BORN APPROXIMATION

被引：8

作者：

HO, PC

CARTER, WH

机构：

[1] UNIV ROCHESTER, INST OPTICS, ROCHESTER, NY USA

[2] USN, RES LAB, WASHINGTON, DC 20375 USA

来源：

关键词：

D O I：

10.1364/AO.15.000313

中图分类号：

O43 [光学];

学科分类号：

070207 ; 0803 ;

摘要：

引用

页码：313 / 314

页数：2

共 4 条

CARTER, WH .

CARTER, WH ;

HO, PC .

APPLIED OPTICS, 1974, 13 (01) :162-172

WOLF, E .

[4]

Wolf E., 1969, Optics Communications, V1, P153, DOI 10.1016/0030-4018(69)90052-2