ELECTRON CHANNELING PATTERNS IN THE SCANNING ELECTRON-MICROSCOPE

被引:256
作者
JOY, DC
NEWBURY, DE
DAVIDSON, DL
机构
[1] NBS, WASHINGTON, DC 20234 USA
[2] SW RES INST, SAN ANTONIO, TX 78228 USA
关键词
D O I
10.1063/1.331668
中图分类号
O59 [应用物理学];
学科分类号
摘要
引用
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页码:R81 / R122
页数:42
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