ON DIRECT MEASUREMENTS OF STRAIN AND ROTATION IN HOLOGRAPHIC INTERFEROMETRY USING LINE OF COMPLETE LOCALIZATION

被引：16

作者：

DUBAS, M ^{[1
]}

SCHUMANN, W ^{[1
]}

机构：

[1] ETH,INST MECH,LAB PHOTOELASTICITY,CH-8006 ZURICH,SWITZERLAND

来源：

OPTICA ACTA | 1975年 / 22卷 / 10期

关键词：

D O I：

10.1080/713818973

中图分类号：

O43 [光学];

学科分类号：

070207 ; 0803 ;

摘要：

引用

页码：807 / 819

页数：13

共 22 条

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