SAMPLE HOLDER FOR MEASURING INTERFACIAL ANGLES OF SMALL CRYSTALS USING A SCANNING ELECTRON-MICROSCOPE

被引：11

作者：

SCHONHERR, E ^{[1
]}

WINCKLER, E ^{[1
]}

机构：

[1] MAX PLANCK INST FESTKORPER FORSCH,D-7000 STUTTGART 80,BUNDES REPUBLIK

来源：

JOURNAL OF CRYSTAL GROWTH | 1976年 / 36卷 / 02期

关键词：

D O I：

10.1016/0022-0248(76)90301-8

中图分类号：

O7 [晶体学];

学科分类号：

0702 ; 070205 ; 0703 ; 080501 ;

摘要：

引用

收藏

页码：353 / 354

页数：2

相关论文

共 1 条

[1]

NIGGLI P, 1941, LEHRBUCH MINERALOGIE