OPTICAL-PATH LENGTH CHANGES INDUCED IN CELL WINDOWS AND SOLID ETALONS BY EVACUATION

被引：21

作者：

BIRCH, KP ^{[1
]}

DOWNS, MJ ^{[1
]}

FERRISS, DH ^{[1
]}

机构：

[1] NATL PHYS LAB,DIV MAT APPLICAT,TEDDINGTON TW11 0LW,MIDDX,ENGLAND

来源：

JOURNAL OF PHYSICS E-SCIENTIFIC INSTRUMENTS | 1988年 / 21卷 / 07期

关键词：

D O I：

10.1088/0022-3735/21/7/013

中图分类号：

TH7 [仪器、仪表];

学科分类号：

0804 ; 080401 ; 081102 ;

摘要：

引用

页码：690 / 692

页数：3

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共 3 条

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