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DETERMINATION OF IN0.53GA0.47AS LAYER THICKNESSES FROM ETCHED STEPS
被引:6
作者
:
ELDER, DI
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0
ELDER, DI
CLAWSON, AR
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CLAWSON, AR
机构
:
来源
:
JOURNAL OF MATERIALS SCIENCE LETTERS
|
1984年
/ 3卷
/ 04期
关键词
:
D O I
:
10.1007/BF00729391
中图分类号
:
T [工业技术];
学科分类号
:
08 ;
摘要
:
引用
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页码:340 / 340
页数:1
相关论文
共 1 条
[1]
A SLOW SELECTIVE ETCH FOR GAINASP GROWN ON INP
FERRANTE, GA
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FERRANTE, GA
DONNELLY, JP
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DONNELLY, JP
ARMIENTO, CA
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0
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0
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ARMIENTO, CA
[J].
JOURNAL OF THE ELECTROCHEMICAL SOCIETY,
1983,
130
(05)
: 1222
-
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共 1 条
[1]
A SLOW SELECTIVE ETCH FOR GAINASP GROWN ON INP
FERRANTE, GA
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FERRANTE, GA
DONNELLY, JP
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DONNELLY, JP
ARMIENTO, CA
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ARMIENTO, CA
[J].
JOURNAL OF THE ELECTROCHEMICAL SOCIETY,
1983,
130
(05)
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