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OPTICALLY DETECTED CYCLOTRON-RESONANCE MEASUREMENTS IN ALO.48IN0.52AS MBE LAYERS
被引:10
作者
:
WRIGHT, MG
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WRIGHT, MG
KANAAH, A
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KANAAH, A
CAVENETT, BC
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CAVENETT, BC
JOHNSON, GR
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JOHNSON, GR
DAVEY, ST
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DAVEY, ST
机构
:
来源
:
SEMICONDUCTOR SCIENCE AND TECHNOLOGY
|
1989年
/ 4卷
/ 07期
关键词
:
D O I
:
10.1088/0268-1242/4/7/018
中图分类号
:
TM [电工技术];
TN [电子技术、通信技术];
学科分类号
:
0808 ;
0809 ;
摘要
:
引用
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页码:590 / 592
页数:3
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