A SECONDARY ION TIME-OF-FLIGHT MASS-SPECTROMETER WITH AN ION MIRROR

被引：103

作者：

TANG, X

BEAVIS, R

ENS, W

LAFORTUNE, F

SCHUELER, B

STANDING, KG

机构：

来源：

INTERNATIONAL JOURNAL OF MASS SPECTROMETRY AND ION PROCESSES | 1988年 / 85卷 / 01期

关键词：

D O I：

10.1016/0168-1176(88)83004-0

中图分类号：

O64 [物理化学（理论化学）、化学物理学]; O56 [分子物理学、原子物理学];

学科分类号：

070203 ; 070304 ; 081704 ; 1406 ;

摘要：

引用

页码：43 / 67

页数：25

共 72 条

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