THE X-RAY RIETVELD SYSTEM XRS-84

被引：4

作者：

BAERLOCHER, C ^{[1
]}

机构：

[1] SWISS FED INST TECHNOL,INST KRISTALLOG & PETR,CH-8092 ZURICH,SWITZERLAND

来源：

ACTA CRYSTALLOGRAPHICA SECTION A | 1984年 / 40卷

关键词：

D O I：

10.1107/S0108767384089224

中图分类号：

O6 [化学];

学科分类号：

0703 ;

摘要：

引用

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页码：C368 / C368

页数：1

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