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RELIABILITY ASSURANCE FOR DEVICES WITH A SUDDEN-FAILURE CHARACTERISTIC
被引:9
作者
:
SAUL, RH
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SAUL, RH
CHEN, FS
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CHEN, FS
机构
:
来源
:
IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS
|
1983年
/ 4卷
/ 12期
关键词
:
D O I
:
10.1109/EDL.1983.25805
中图分类号
:
TM [电工技术];
TN [电子技术、通信技术];
学科分类号
:
0808 ;
0809 ;
摘要
:
引用
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PURGING - A RELIABILITY ASSURANCE TECHNIQUE FOR NEW TECHNOLOGY SEMICONDUCTOR-DEVICES
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