A 2-UNIT DETERIORATING STANDBY SYSTEM WITH INSPECTION

被引：5

作者：

GOEL, LR

GUPTA, P

机构：

来源：

MICROELECTRONICS AND RELIABILITY | 1984年 / 24卷 / 03期

关键词：

D O I：

10.1016/0026-2714(84)90470-0

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

页码：435 / 438

页数：4

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共 4 条

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