CHARACTERIZATION OF LOCAL TRANSFER DEFECTS IN CCDS USING A MULTIREVERSAL TRANSFER MODE

被引：2

作者：

LEMONIER, M

PIAGET, C

机构：

来源：

IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES | 1983年 / 30卷 / 10期

关键词：

D O I：

10.1109/T-ED.1983.21314

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

收藏

页码：1414 / 1416

页数：3

相关论文

empty

未找到相关数据