FURTHER EVIDENCE FOR THICKNESS INFLUENCE ON DIELECTRIC LOSS

被引：1

作者：

GUPTA, SK ^{[1
]}

SRIVASTAVA, VK ^{[1
]}

机构：

[1] UNIV ROORKEE,DEPT PHYS,ROORKEE 247667,UTTAR PRADESH,INDIA

来源：

JOURNAL OF PHYSICS AND CHEMISTRY OF SOLIDS | 1977年 / 38卷 / 09期

关键词：

D O I：

10.1016/0022-3697(77)90219-0

中图分类号：

O6 [化学];

学科分类号：

0703 ;

摘要：

引用

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页数：2

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共 3 条

[1] THICKNESS INFLUENCE ON DIELECTRIC LOSS [J].

GUPTA, SK ;

SRIVASTAVA, VK .

JOURNAL OF PHYSICS AND CHEMISTRY OF SOLIDS, 1976, 37 (11) :975-977

[2] INTERFEROMETRIC AND X-RAY DIFFRACTION STUDY OF BUILT-UP MOLECULAR FILMS OF SOME LONG CHAIN COMPOUNDS [J].

SRIVASTA.VK ;

VERMA, AR .

SOLID STATE COMMUNICATIONS, 1966, 4 (08) :367-&

[3]

SRIVASTAVA VK, 1973, PHYS THIN FILMS, V7, P311