COMPARISON OF MICROWAVE AND PROBE METHODS OF PLASMA DIAGNOSTICS

被引：5

作者：

SICHA, M

GAJDUSEK, J

VEPREK, S

机构：

来源：

BRITISH JOURNAL OF APPLIED PHYSICS | 1966年 / 17卷 / 11期

关键词：

D O I：

10.1088/0508-3443/17/11/417

中图分类号：

O59 [应用物理学];

学科分类号：

摘要：

引用

页码：1511 / +

页数：1

共 18 条

[1]

AVRAMOV VV, 1960, VEST MOSK GOS U, V3, P55

[2]

BAKULE R, 1960, CZECH J PHYS, V10, P754

[3]

BIBERMAN L, 1951, ZH TEKH FIZ+, V21, P12

[4] ORIENTATION OF CRYSTALLITES IN STRETCHED POLYETHYLENE - REPLY [J].

BROWN, A .

[5]

GOLANT VE, 1960, ZH TEKH FIZ, V30, P1265

[6]

GRANOVSKII VL, 1952, ELECTRICAL CURRENTS

[7]

HEYMANN P, 1965, BEITR PLASMAPHYS, V5, P343

[8]

KLYARFELD BN, 1952, ZH EKSP TEOR FIZ+, V22, P66

[9]

KVASIL B, 1957, THEORETICAL FUNDAMEN

[10]

LOB L, 1950, FUNDAMENTAL ELECTRIC