A TEST BY MONTE-CARLO SIMULATION OF THE LUCKY DRIFT THEORY OF IMPACT IONIZATION FOR A MODEL WITH ENERGY-DEPENDENT PARAMETERS

被引：10

作者：

MCKENZIE, S ^{[1
]}

BURT, MG ^{[1
]}

机构：

[1] UNIV LONDON ROYAL HOLLOWAY COLL,DEPT CHEM,EGHAM TW20 0EX,SURREY,ENGLAND

来源：

SEMICONDUCTOR SCIENCE AND TECHNOLOGY | 1987年 / 2卷 / 05期

关键词：

D O I：

10.1088/0268-1242/2/5/005

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

10

引用

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页码：275 / 280

页数：6

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