QUANTITATIVE AUGER ANALYSIS OF COPPER-NICKEL ALLOY SURFACES AFTER ARGON ION-BOMBARDMENT - REPLY

被引：14

作者：

ONO, M ^{[1
]}

SHIMIZU, H ^{[1
]}

NAKAYAMA, K ^{[1
]}

机构：

[1] ELECTROTECH LAB,TANASHI 188,TOKYO,JAPAN

来源：

关键词：

D O I：

10.1016/0039-6028(75)90099-0

中图分类号：

O64 [物理化学（理论化学）、化学物理学];

学科分类号：

070304 ; 081704 ;

摘要：

引用

页码：681 / 684

页数：4

共 6 条

[1] GENERAL FORMALISM FOR QUANTITATIVE AUGER ANALYSIS [J].

CHANG, CC .

HELMS, CR .

[3] SEGREGATION AT CU-AU ALLOY SURFACES [J].

MCDAVID, JM ;

FAIN, SC .

NAKAYAMA, K ;

ONO, M ;

SHIMIZU, H .

JOURNAL OF VACUUM SCIENCE & TECHNOLOGY, 1972, 9 (02) :749-&

PONS, F ;

LEHERICY, J ;

LANGERON, JP .

SHIMIZU, H ;

ONO, M ;

NAKAYAMA, K .