CHARACTERIZATION OF SIO2 SURFACES AS A FUNCTION OF NETWORK CONNECTIVITY

被引：10

作者：

MARIANS, CS

HOBBS, LW

机构：

来源：

JOURNAL OF NON-CRYSTALLINE SOLIDS | 1988年 / 106卷 / 1-3期

关键词：

D O I：

10.1016/0022-3093(88)90282-7

中图分类号：

TQ174 [陶瓷工业]; TB3 [工程材料学];

学科分类号：

0805 ; 080502 ;

摘要：

引用

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页码：317 / 320

页数：4

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共 2 条

[1] MARIANS C, 1988, UNPUB J PHYS CHEM MI
[2] Marians C. S., 1987, Diffusion and Defect Data, V53-54, P31