REGULARIZATION IN ELLIPSOMETRY - NEAR-SURFACE DEPTH PROFILES OF THE REFRACTIVE-INDEX

被引:17
作者
KAISER, JH
机构
来源
APPLIED PHYSICS B-PHOTOPHYSICS AND LASER CHEMISTRY | 1988年 / 45卷 / 01期
关键词
D O I
10.1007/BF00692332
中图分类号
O59 [应用物理学];
学科分类号
摘要
引用
收藏
页码:1 / 5
页数:5
相关论文
共 16 条