ANALYTICAL ELECTRON-MICROSCOPY OF MG-SIO SMOKES - A COMPARISON WITH INFRARED AND XRD STUDIES

被引:58
作者
RIETMEIJER, FJM [1 ]
NUTH, JA [1 ]
MACKINNON, IDR [1 ]
机构
[1] NASA,WASHINGTON,DC 20546
关键词
D O I
10.1016/0019-1035(86)90152-1
中图分类号
P1 [天文学];
学科分类号
0704 ;
摘要
引用
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页码:211 / 222
页数:12
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