THE RELATIVE EFFICIENCY OF SOFT-ERROR INDUCTION IN 4K STATIC RAMS BY MUONS AND PIONS

被引：16

作者：

DICELLO, JF ^{[1
]}

MCCABE, CW ^{[1
]}

DOSS, JD ^{[1
]}

PACIOTTI, M ^{[1
]}

机构：

[1] UNIV CALIF LOS ALAMOS NATL LAB,LOS ALAMOS,NM 87545

来源：

关键词：

D O I：

10.1109/TNS.1983.4333182

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

页码：4613 / 4615

页数：3

共 4 条

DICELLO, JF ;

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